TestBit: Testen eines Bits

 

TestBit-Funktion

Anschlussplan

Diese Abbildung zeigt den Anschlussplan für die Funktion TestBit:

G-SG-0030285.3.gif-high.gif

 

 

Funktionsbeschreibung

Die Funktion TestBit testet ein durch ein Bit im gegebenen DWORD-Eingang spezifiziertes Bit. Die Bits werden vom niederwertigsten zum höchstwertigen hin gezählt, beginnend mit 0.

Der Ausgang zeigt den Anwesenheitsstatus eines Bits in der angegebenen Position an. Der gültige Bereich ist 0 bis 31.

Beschreibung der Eingangspins

Diese Tabelle beschreibt die Eingangspins der Funktion TestBit:

Eingang

Datentyp

Beschreibung

i_dwIput

DWORD

Eingangswert

Bereich: 0...4294967295

i_iPos

INT

Bitposition

Bereich: 0...31

Beschreibung der Ausgangspins

Diese Tabelle beschreibt die Ausgangspins der Funktion TestBit:

Ausgang

Datentyp

Beschreibung

TestBit

BOOL

Das Ergebnis ist True oder False

Einschränkungen

Wenn der Eingang i_iPos nicht innerhalb des gültigen Bereichs ist, wird der Eingang im Modulo-Modus interpretiert.

Verwendungsbeispiel

G-SG-0030286.1.gif-high.gif

 

 

Diese Abbildung zeigt ein Beispiel für die Funktion TestBit:

G-SG-0030287.2.gif-high.gif