TestBit: Test d'un bit

 

Fonction TestBit

Schéma d'affectation des broches

La figure ci-dessous présente le schéma d'affectation des broches du bloc fonction TestBit :

G-SG-0030285.3.gif-high.gif

 

 

Description fonctionnelle

La fonction TestBit teste un bit spécifié par le bit dans l'entrée DWORD. Les bits sont rangés du poids faible au poids fort en commençant à 0.

La sortie affiche l'état de présence du bit dans la position spécifiée. La plage valide est comprise entre 0 et 31.

Description des broches d'entrée

Ce tableau décrit les broches d'entrée de la fonction TestBit :

Entrée

Type de données

Description

i_dwIput

DWORD

Valeur d'entrée

Plage : 0...4294967295

i_iPos

INT

Rang du bit

Plage : 0...31

Description des broches de sortie

Ce tableau décrit les broches de sortie de la fonction TestBit :

Sortie

Type de données

Description

TestBit

BOOL

Le résultat est True ou False.

Limitations

Si l'entrée i_iPos n'est pas dans la plage valable, l'entrée est interprétée an mode modulo.

Exemple d'utilisation

G-SG-0030286.1.gif-high.gif

 

 

Cette figure constitue un exemple de la fonction TestBit :

G-SG-0030287.2.gif-high.gif